基于安庆蔡司断层扫描仪METROTOM的工业计算机断层扫描(CT)

　　使用蔡司断层扫描仪的工业计算机断层扫描系统，只需进行一次X射线扫描即可成功完成对工件的测量和检查。标准的验收测试，精密的工程设计和完整的校准程序可以确保系统的可追溯性。配备了直线导轨和转盘，可以满足客户对精度的高要求。

　　蔡司断层扫描仪整体零件的测量和检查

　　蔡司断层扫描仪METROTOM是一种工业计算机断层扫描测量系统，用于测量和检查塑料或轻金属零件。使用传统的测量机进行测量时，只能通过耗时的层破坏零件才能获得这种隐藏的结构信息。

　　轻松，准确地进行各种特征检测

　　使用蔡司断层扫描仪METROTOM计算机断层扫描系统，可以一次扫描大量组件特征。这些测量结果非常准确且可追溯。与接触式测量方法不同，蔡司METROTOM在获取大量测量点时可以显着减少时间。

　　直观，简单的软件操作

　　只有通过简短的蔡司断层扫描仪METROTOM OS软件培训课程，操作员才能扫描零件并查看零件的内部。使用蔡司CALYPSO评估CT数据，然后使用蔡司PiWeb将两者快速集成到同一测量报告中。